آنالیزهای پیشرفته منسوجات با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی
ارائه خدمات پیشرفته توسط شرکت دیپترونیک
میکروسکوپ الکترونی روبشی نوعی میکروسکوپ است که در آن به جای نور از پرتوی الکترونی استفاده میشود. در این میکروسکوپها، لنزهای مغناطیسی جایگزین عدسی نوری است که توانایی تغییر و جابجایی پرتوی الکترونی را دارند. در میکروسکوپ الکترونی روبشی معمولی، از فیلامنت تنگستنی به عنوان منبع تولید پرتوی الکترونی استفاده میشود که قدرت کمی در متمرکز کردن پرتوی الکترونی بر روی نمونه مورد بررسی دارد و این امر در بزرگنماییهای بالا موجب کاهش وضوح تصویر میشود. در میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FESEM) از تک کریستال برای تولید پرتوی الکترونی استفاده میشود که تمرکز بسیار بالایی بر روی ناحیه مورد بررسی داشته و امکان تصویربرداری با کیفیت تصویر مطلوب را در بزرگنماییهای بسیار بالا مقدور مینماید. نمونه مورد مطالعه در FESEM، مانند تمامی روشهای میکروسکوپی دیگر باید از ویژگیهای خاصی برخوردار باشد که از مهمترین آنها میتوان به ابعاد محدود و صلب بودن نمونه اشاره نمود. برای بررسی نمونهها با این میکروسکوپ باید آنها را آمادهسازی کرد. رسانا بودن سطح نمونه شرط لازم است تا بتوان آن را مورد بررسی قرار داد. به همین جهت، برای نمونههای نارسانا، از یک پوشش نازک رسانا بر روی نمونه استفاده میشود.
شکل۱- نمایی از میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FESEM)
با ورود علم نانو در صنعت نساجی علاوه بر تولید نانو مواد اولیه این صنعت نظیر نانو الیاف و نانو رنگدانهها، در تکمیل منسوجات نیز پیشرفتهای شایانی حاصل شده است. فناوری نانو قابلیتهای متنوعی به صنعت نساجی اعطا نموده است؛ چنانکه با پوششدهی نانوذرات متفاوت بر روی پارچه یا به عبارت دیگر نوعی تکمیل نانومتری بر روی پارچه، میتوان بدون از دست دادن خواصی همچون تنفسپذیری، زیردست، جلا و…، خواصی همچون ضد لک، ضد چروک، خودتمیزشونده، ضد باکتری و حتی رسانش الکتریکی را به پارچه اعطا کرد. این چنین است که بر اساس پیش بینیهای جهانی به نظر میرسد فناوری نانو ظرفیت ایجاد سهم بزرگی از نوآوریهای رو به جلو در صنعت نساجی را دارد. گفته میشود نساجی جهان در آینده بر پایه نانوفناوری خواهند بود و بالطبع آنالیزهای پیشرفته جهت مطالعه این محصولات نیز نقش ویژهای را خواهند داشت.
شکل۲- تصاویر FESEM الف)پارچه، ب) نانوالیاف و ج) نانومواد
دستگاههای میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی پیشرفته علاوه بر فراهم نمودن قابلیت تصویربرداری در بزرگنماییهای بالا از نانومواد پوشش داده شده بر روی سطح پارچه، نانوالیاف و…. از قابلیتهای دیگری نیز برخودارند. این دستگاهها مجهز به دتکتورهای پیشرفتهای برای آنالیز عنصری هستند. هر عنصری اشعه ایکسی را ساطع مینماید که با استفاده از دتکتور EDS همزمان با تصویریرداری میتوان آنالیز عنصری جهت تشخیص ترکیب عناصر موجود در نمونه در نقاط معینی از آن و یا حتی نقشهای از توزیع عناصر موجود در نمونه با توجه به سطح تصویر برداری شده را بدست آورد. نقشه عنصری (Elemental Mapping) قابلیتی نوظهور است که علاوه بر بررسی کمی عناصر در محدوده مورد مطالعه، امکان بررسی کیفیت توزیع نانومواد را نیز مقدور مینماید
شکل۳- نمونهای از نقشه عنصری دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FESEM)